還（hái）不（bú）了解淬火層測厚儀？看這裏！

　　

　　儀器有渦流（liú）測（cè）厚原理（lǐ）和磁性測厚（hòu）原理之分，磁性法測量厚（hòu）度受基體（tǐ）金（jīn）屬性變化的影響（xiǎng）(在實際應（yīng）用中，低碳鋼（gāng）磁性（xìng）的變（biàn）化可認為是輕（qīng）微（wēi）的)，為了避免熱處理和冷加（jiā）工因素的影響，應使用（yòng）與（yǔ）試件基（jī）體金屬具有相同性質（zhì）的標準片對儀（yí）器（qì）進行（háng）校準（zhǔn）;基體金屬的電導率對測量有影響，而（ér）基體金屬的電導率與（yǔ）其（qí）材料成份及（jí）熱（rè）處理方法有（yǒu）關（guān）。

　　

　　淬（cuì）火層測厚（hòu）儀的使用與試件（jiàn）基體金屬具（jù）有相（xiàng）同性（xìng）質的標準片對儀器進（jìn）行（háng）校（xiào）準，每一種儀器都有一（yī）個臨界厚度，大於（yú）這個厚度，測量就不（bú）受基體金屬厚度的影響；對（duì）試件表麵形狀（zhuàng）的（de）陡變敏（mǐn）感（gǎn），因此在靠近（jìn）試件邊緣或內轉角處進行（háng）測量是不可靠的;試件的曲率對測量有影響，隨著曲率半徑的減少（shǎo）明顯（xiǎn）地增大，因此，在彎曲試件的表麵上測量也（yě）是（shì）不（bú）可靠（kào）的（de）;探（tàn）頭（tóu）會使軟塗層試件變形（xíng），因此在這些試（shì）件（jiàn）上測不出可（kě）靠的數據;基體金屬和塗層的表麵（miàn）粗糙度對測量（liàng）有影（yǐng）響。

　　

　　高頻交流信號在探頭線圈中產生電磁場，探頭靠（kào）近導體（tǐ）時，就在其中形成渦流。探（tàn）頭離導（dǎo）電基（jī）體愈近，則渦流愈大（dà），反射（shè）阻抗也愈大。這個反饋作用量表（biǎo）征（zhēng）了探頭與導電基體之間距離的大小（xiǎo），也就是導電基體上非（fēi）導電塗層（céng）厚（hòu）度的大小（xiǎo）。由於這類塗層測厚儀（yí）探頭專門測量非鐵磁金屬基體上的塗層厚度，所以（yǐ）通常稱為（wéi）非磁（cí）性（xìng）探頭（tóu）。