使用塗層測厚儀時，影響（xiǎng）測量（liàng）結果會有哪些（xiē）因素（sù）？

　　

　　下麵我們一起去（qù）看（kàn）看使用時，影（yǐng）響塗層測（cè）厚儀測（cè）量結（jié）果的有哪些因素？

　　1、基（jī）體金屬磁（cí）性磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中（zhōng），低碳鋼磁性（xìng）的變化可以認為時輕微的）。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響，應使用與試件（jiàn）金（jīn）屬具有相（xiàng）同（tóng）性質（zhì）的鐵基片（piàn）對儀器進行校準（zhǔn）。

　　

　　2、基體金（jīn）屬厚（hòu）度每一種儀器都有一個（gè）基體金屬的臨界（jiè）厚（hòu）度。大於這個厚度（dù）測量就不（bú）受基體厚（hòu）度的影響。

　　

　　3、邊緣（yuán）效應本儀器對試片表麵形（xíng）狀的陡變（biàn）敏（mǐn）感（gǎn）。因此在靠近試（shì）片（piàn）邊（biān）緣（yuán）或內轉角處（chù）進行測（cè）量（liàng）是不可（kě）靠的。

　　

　　4、曲率試件的（de）曲率（lǜ）對測量有影響，這種影響總是隨著曲率半徑（jìng）的減小明顯地（dì）增大。因此不應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲（qǔ）麵上測量。

　　

　　5、表麵粗（cū）糙度基體金屬何覆蓋層的表（biǎo）麵粗糙度對測量（liàng）有影響。粗糙度增大，影響增大（dà）。粗糙表麵會引起係統誤差何偶然誤差。每次（cì）測量時，在不同（tóng）位（wèi）置上應增加測量的次數，以克服這種偶然（rán）誤差（chà）。如（rú）果基體金屬粗糙，還必須在（zài）未（wèi）屠夫的粗糙度相類似的基體金屬（shǔ）試件（jiàn）上（shàng）取幾個位置（zhì）校對儀（yí）器的零點；或（huò）用沒有腐（fǔ）蝕性的溶液（yè）除去基體金屬覆蓋層，再校對儀器的（de）零（líng）點。

　　

　　6、磁場周圍（wéi）各種電氣設備（bèi）所產生的（de）強（qiáng）磁（cí）場，會嚴重地幹（gàn）擾磁性法測量厚度的（de）工作。

　　

　　7、附著物質本儀（yí）器對那些（xiē）妨礙探頭與覆蓋層表麵緊密接觸的附著（zhe）物質敏感。因此必（bì）須清除附著（zhe）物質（zhì），以（yǐ）保證探頭與覆蓋（gài）層表（biǎo）麵直接接觸。

　　

　　8、探（tàn）頭壓力探頭置於試件上施加的壓（yā）力（lì）大小會影響測量的（de）讀數。因（yīn）此本儀器（qì）探（tàn）頭用彈簧（huáng）保持一（yī）個基本恒定的壓力。

　　

　　9、探頭的放（fàng）置探頭（tóu）的放（fàng）置方式（shì）對測（cè）量有影（yǐng）響。在（zài）測量中，應當使（shǐ）探頭（tóu）與（yǔ）試樣（yàng）表麵（miàn）保持垂直。

　　

　　10、試件（jiàn）的變形探（tàn）頭使軟覆蓋層試件變（biàn）形。因此（cǐ）在這些試件上會（huì）測（cè）出不（bú）太可（kě）靠的數據（jù）。讀數次數通常（cháng）儀器（qì）的（de）每次讀數並不*相同。因（yīn）此必須（xū）在每一測量麵積內（nèi）取（qǔ）幾個（gè）讀數，覆蓋（gài）層（céng）厚度的（de）局（jú）部差異，也要求（qiú）在任一給定的麵積內進（jìn）行多次測（cè）量（liàng）。表麵（miàn）粗糙時更應如此。